Catalogue 2010
• Accés par mots-clés
Accés à la recherche 'Full Texte' du catalogue 2010 de CNRS Formation Entreprises.
• Accés par axes
-
II - Génie Logiciel
-
III - Modélisation, Information Scientifique et Technique
-
IV - Traitement du Signal, Optique, Vision 2D/3D
-
V - Mise en œuvre de Matériaux
-
VI - Caractérisation de Matériaux
-
VII - Sécurité
-
VIII - Microscopies
-
IX - Chimie, Chromatographie et Electrophorèse
-
X - Spectroscopie et Analyse
-
XI - Spectrométrie de masse
-
XII - Résonance Magnétique Nucléaire
-
XIII - Biologie
-
XIV - Collections et Moulages
-
XV - Expérimentation animale
- XVI - Qualité, Environnement
| I - Electronique |
|
I) Electronique |
Acquérir les notions de base utilisées en conception et mesure des circuits hyperfréquences en mettant en oeuvre les outils associés : station de travail, analyseur de réseau vectoriel et analyseur de spectre. |
|
|
|---|
|
Acquérir les notions de base utilisées en conception et mesure des circuits hyperfréquences en mettant en oeuvre les outils associés : station de travail, analyseur de réseau vectoriel et analyseur de spectre. |
|
|
|---|
|
Acquérir les bases théoriques utiles à la compréhension des mécanismes mis en jeu dans le fonctionnement des composants semi-conducteurs. |
|
|
|---|
|
Initier les participants aux techniques mises en oeuvre dans le cadre de réalisation de dispositifs en micro et nanotechnologie et aux méthodes de caractérisation structurale associées. |
|
|
|---|
|
Nouveau
Pratique des méthodes de lithographie électronique, optique et par UV-NIL, Permettre aux stagiaires de cerner les avantages et limites de chaque technique, et de mieux appréhender leur futur développement technologique. |
|
|
|---|
|
|